第78回 / 午前 / NATIONAL EXAMINATION
問題 13 / 核医学診療技術学 / 核医学画像処理:TEW法
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第78回 午前 問13
核医学診療技術学
TEW法で推定される散乱線成分を表す式はどれか。ただし、メインウインドウ幅をW1、低エネルギー側サブウインドウの カウントと幅をClow、W2、高エネルギー側サブウインドウのカウントと幅をChigh、W3とする。